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蔡司Sigma 系列電子顯微鏡將高級的分析性能與場發(fā)射掃描技術相結(jié)合，利用成熟的 Gemini 電子光學元件。多種探測器可選：用于顆粒、表面或者納米結(jié)構(gòu)成像。Sigma 半自動的4步工作流程節(jié)省大量的時間：設置成像與分析步驟，提高效率。

EVO18電子顯微鏡與直觀、用戶友好的體驗相結(jié)合，對受過培訓的顯微鏡專家和新用戶都有吸引力。無論您是在生命科學、材料科學領域，還是在常規(guī)工業(yè)質(zhì)量保證和故障分析領域，EVO都可以根據(jù)您的需求進行精確定制。

GeminiSEM 系列電子顯微鏡具有出色的探測效率，能夠輕松地實現(xiàn)亞納米分辨成像。無論是在高真空還是在可變壓力模式下，更高的表面細節(jié)信息靈敏度讓您在對任意樣品進行成像和分析時都具備更佳的靈活性，為您在材料科學研究、生命科學研究、工業(yè)實驗室或是顯微成像平臺中獲取各種類型樣品在微觀世界中清晰、真實的圖像，提供靈活、可靠的場發(fā)射掃描電子顯微鏡技術和方案。

蔡司MultiSEM電子顯微鏡開啟電子顯微鏡速度的革新時代$n借助 MultiSEM 顯微鏡，您可以充分運用 91 條并行電子束的采集速度。現(xiàn)如今，您能夠以納米分辨率對厘米級樣品成像。這款出色的掃描電子顯微鏡（SEM）專為 7 x 24 小時的連續(xù)、可靠運行而設計。只需簡單設置高性能數(shù)據(jù)采集流程，MultiSEM 便能夠獨立地自動完成高襯度圖像采集。

蔡司 EVO系列掃描電子顯微鏡模塊化的 SEM 平臺適用于直觀操作、例行檢測和研究應用。無論是在生命科學， 材料科學， 或例行的工業(yè)質(zhì)量保證和失效分析領域，憑借廣泛的可選配置， EVO 都可以根據(jù)您的要求量身定制。

JetSCAN便攜式掃描電子顯微鏡整體解決方案中集成了強大的數(shù)據(jù)分析和風險評估功能，是一款用于軸承磨損狀態(tài)監(jiān)測的優(yōu)秀診斷與預測工具。